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影響閃點(diǎn)的因素

發(fā)布日期: 2021-08-19
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執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T 261 ISO 2719 ASTM D93

 


   1 儀器設(shè)計(jì)
   閃點(diǎn)儀自身結(jié)構(gòu)與參數(shù)設(shè)置均可能通過(guò)影響燃燒三要素改變閃點(diǎn)測(cè)試值著力增加,同時(shí)儀器傳感元件性能又直接影響測(cè)試準(zhǔn)確性。

   2 實(shí)驗(yàn)環(huán)境
   實(shí)驗(yàn)室環(huán)境影響主要分為環(huán)境溫度取得明顯成效、濕度和空氣流動(dòng)三個(gè)方面雙重提升。對(duì)于部分沒有做好溫度補(bǔ)償?shù)拈W點(diǎn)儀,高低溫或環(huán)境溫度劇烈變化會(huì)導(dǎo)致電子元件產(chǎn)生溫漂特性,影響測(cè)試結(jié)果傳承;環(huán)境濕度影響空氣的電擊穿特性,從而改變點(diǎn)火能量和閃點(diǎn)建言直達;另外多種,若儀器封閉性不佳,周邊氣流會(huì)帶走部分油蒸氣充分發揮,降低樣品杯上方的蒸氣濃度發展成就,導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果偏大

   3 人為操作
   不恰當(dāng)?shù)牟僮鞣绞揭矊@著影響閃點(diǎn)測(cè)試的準(zhǔn)確性與重復(fù)性。例如重要方式,樣品在高溫下保存或取樣過(guò)程中可能會(huì)引起易揮發(fā)組分的損失開展面對面,導(dǎo)致閃點(diǎn)測(cè)試結(jié)果偏大;另外非常重要,裝樣量不準(zhǔn)確影響樣品杯上方空間體積進一步提升,體積越小,越快到達(dá)CLFL, 測(cè)量值偏低營造一處,反之則偏高不折不扣;而對(duì)于相同的樣品,若預(yù)期閃點(diǎn)值設(shè)置不同資源優勢,測(cè)試過(guò)程中點(diǎn)火與空氣導(dǎo)入次數(shù)不同將導(dǎo)致樣品杯內(nèi)氣體成分的差異高效利用,也將影響閃點(diǎn)測(cè)試結(jié)果;當(dāng)然不斷完善,每次實(shí)驗(yàn)后的清洗過(guò)程也很重要數字化,進(jìn)行連續(xù)測(cè)試時(shí)必須排除前一個(gè)樣品殘留物造成的影響。
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